EUV作为下一代技术的代表,不需要多重曝光,一次就能曝出想要的精细图形,没有超纯水和晶圆接触,在产品生产周期、OPC的复杂程度、工艺控制、良率等方面的优势明显。但是也需要继续优化。特别是EUV的曝光方式,降低EUV掩膜版的缺陷,以及晶圆产率方面还有很大发大空间。EUV光刻机对7nm及以下的工艺节点非常重要,台积电、三星两大代工巨头均已在最新产品中引入7纳米EUV技术。>>全文
EUV被认为是推动半导体产业制造更小芯片的重要里程碑,但是根据目前的EUV微影技术发展进程来看,10奈米(nm)和7nm制程节点已经准备就绪,就是5nm仍存在很大的挑战。>>全文
随着先进制程来到10纳米之下,制程微缩瓶颈浮现,同时复杂的图形造成曝光次数增加,光罩成本随之倍增,让半导体产业向来信守的摩尔定律(Moore’s Law)变得窒碍难行,极紫外光(extreme ultraviolet;简称EUV)E技术被视为摩尔定律继续往下走的关键,EUV制程技术势在必行。>>全文
比利时研究机构Imec和微影设备制造商ASML计划成立一座联合研究实验室,共同探索在后3nm逻辑节点的奈米级元件制造蓝图。此次双方这项合作是一项为期五年计划的一部份,分为两个阶段:首先是开发并加速极紫外光(EUV)微影技术导入量产,包括最新的EUV设备准备就绪。其次将共同探索下一代高数值孔径(NA)的EUV微影技术潜力,以便能够制造出更小型的奈米级元件,从而推动3nm以后的半导体微缩。>>全文
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