5th October 2016 – 半导体技术的持续发展带来了更复杂、功能集成度更高的器件。因此，现在有许多不同的参数需要被测试，并且整个开发和生产过程中的每一个阶段都需要用到不同种类的仪器。这在以方便、经济实惠和无风险的方式寻找这些物品的货源时，会有严重影响。针对这些动态，Microlease公司刚刚推出了其半导体工具箱。

　　这种极为灵活的多方面测试解决方案，可以让半导体制造商、代工厂和设计公司来处理测试和验证活动的每个方面——从最初的研发，直到设计测试、原型测试和最终的生产测试。客户可以选择一套最适合自己需求的采购包，包括硬件、软件和探测元件等。其可以是短期租用、长期租赁或是购置新的或二手设备。万一所需的测试框架在任何时候发生变化，租来的物品可以很容易地升级或用其他设备交换。

　　下面是Microlease现已上市的半导体工具箱所包括的几个方面：

　　·电源测试——显然，半导体行业所面临的一个主要挑战是控制IC的功耗。这样做意味着集成了这些IC的最终产品可以有较低的功耗，因此可从更长的电池寿命中受益（在消费电子产品的情况下），或能够获得更高的节能等级（与家用电器有关）。此外，电源技术的进步实现了更少的散热，因此相应的散热管理可以得到缩减（由此可以得到系统成本和空间利用率上的优势）。Microlease现有的许多租用/租赁/采购选项中，包含了一套广泛的电源和电源测试解决方案组合，例如是德科技的B1500参数分析仪（具有100μs采样率）和吉时利/泰克26XX系列源表等。

　　·射频IC测试——随着新无线标准的引入，例如LTE Advanced Pro、5G和802.11ax，以及下一代增强RF性能的技术，例如包络跟踪（ET）和数字预失真（DPD），测试工程团队的压力比以往任何时候都要更大。他们必须找到更有效的方法来使测试时间尽可能地缩短，并保持高吞吐量，而不会产生额外的成本或牺牲精度。Microlease针对射频测试用途提供的工具当中包含是德科技N9040B信号分析仪（带宽高达50GHz，无杂散动态范围高达78dBc）和E8267D高性能信号发生器（配置范围广泛）。

　　·设计测试——示波器构成了几乎所有半导体测试程序的基础。Microlease由于其全面的示波器产品，能够为客户提供针对其特定技术和预算标准全面优化的解决方案。这包括标准的模拟和数字型号，一直到高性能40GHz型号。混合信号设备（即示波器与逻辑分析仪相结合的产品）和混合域设备（即示波器加上一个内置频谱分析仪）也包括在内。

　　·物理层测试——确保IC的物理参数达到预期规格，常常需要使用带时域反射计（TDR）功能的RF网络分析仪。Microlease为这种设备从领先制造商储备了一套广泛的产品组合。在这些产品中包括罗德与施瓦茨的4端口67GHz ZVA-67及是德科技的50GHz PNA-X系列产品。

　　“随着每年的IC出货量逼近10亿大关，业界使用更小的架构，诸如GaN和SiC的新工艺的出现，以及MEMS器件进一步的激增，半导体产业提出了比以往任何时候都更严格的测试要求。”Microlease公司营销总监George Acris表示，“以我们专业的应用支持为后盾，通过Microlease库存的力度和深度，当谈到以尽可能最经济灵活的方式访问其所需的先进测试技术时，摆在专业测试人员面前的几乎是无限的范围。此外，这在具体实现时，可以无需关心交货时间延长、设备淘汰，或因维修或校准所产生的隐性成本。”