头条 无缝连接无处不在：非地面网络如何重塑6G 进入6G时代，NTN所承载的价值已不只是网络覆盖，还包括更高的弹性和包容性。究竟发生了什么变化？ 最新资讯 NI发布业界最高精度的PXI源测量单元 NI（美国国家仪器，National Instruments, 简称NI） 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，近日宣布推出NI PXIe-4135源测量单元(SMU)，其测量灵敏度达10 fA，输出电压高达200V。工程师可以使用NI PXIe-4135 SMU来测量低电流信号，并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性来实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等各种应用。 发表于：2016/7/26 佛罗里达大学电脑安全小组 全球领先的测量解决方案提供商——泰克科技公司日前宣布，佛罗里达大学赫伯特韦工程学院下属的佛罗里达电脑安全研究院 (FICS Research)将采用泰克一流的全线测试设备，装备其电子科研实验室。 发表于：2016/7/26 是德科技晶圆级解决方案平台完美集成低频噪声测量 是德科技公司（NYSE：KEYS）宣布推出最新款的高性能先进低频噪声分析仪（A-LFNA），旨在实施快速、准确、可重复的低频噪声测量。该版本配备全新用户界面，并与是德科技的 WaferPro Express 软件紧密集成——这是一款对半导体器件执行自动化晶圆级测量的平台。 发表于：2016/7/26 实现精确测量两大方法 PA功率分析仪功率单元有两路输入：电流和电压。FPGA和DSP等运算直接获得的测量数据只有电压和电流的ADC直接测量的结果，功率、效率、谐波等均以电压电流测量为基础，通过运算获得的结果，如功率就是使用电压和电流直接测量结果进行的运算。 发表于：2016/7/23 MAP图对调速电机的作用 电机中的MAP图是电机测试时生成的一种数据曲线图，主要是反映在不同转速、扭矩下的电机效率分布情况，通俗而言就是效率分布图，类似于我们地理课上常见的等高线图。将效率相同的点连成一环线直接投影到平面形成水平曲线，不同效率的环线不会相合。效率值比较接近的位置，线就会相对密集；相反，效率值相差较大的位置，线的间隔也会较大。 发表于：2016/7/23 15dB 增益部件在100kHz至1.4GHz 频率范围内 凌力尔特公司 (Linear Technology Corporation) 推出一款宽带 15dB 增益部件放大器 LTC6433-15，该器件在 150MHz 提供出色的 47dBm OIP3 (输出三阶截取) 线性度和 3.22dB 噪声指数。该放大器拥有 19.2dBm 的卓越 OP1dB (输出 1dB 压缩点)。 发表于：2016/7/22 是德科技扩充 PXI、AXIe 仪器和参考解决方案阵容 是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，其高性能PXI和AXIe仪器和参考解决方案阵容也已扩充。这些仪器和解决方案广泛用于各种应用，包括5G、PA/FEM和数字互连测试，以提高测试速度、提升精度并缩小整体尺寸。 发表于：2016/7/21 中国力量崛起 微波射频测试趋向世界一流 提起微波射频测试，大家首先想到的大多是国际著名电子测试仪器公司。而中国自主的微波射频测试仪器一般处于一个相对较低的水平。现在这种状况已经开始逐渐发生了转变。记者在2016中国西部微波射频技术研讨会上通过聆听与会专家演讲和会后的交流欣喜地发现，中国微波射频测试仪器的许多主要性能指标已经可以媲美世界一流水平，在个别方面还有所超过，有着自己的独门绝活。 发表于：2016/7/21 KLA-Tencor 为领先的集成电路技术推出晶圆全面检测与检查系列产品 在美国西部半导体展览会前，KLA-Tencor 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今天为前沿集成电路制造推出了六套先进的缺陷检测与检查系统：3900 系列（以前称为第 5 代）和 2930 系列宽波段等离子光学检测仪、Puma™ 9980 激光扫描检测仪、CIRCL™5 全表面检测套件、Surfscan® SP5XP 无图案晶圆缺陷检测仪和 eDR7280™电子束检查和分类工具。 发表于：2016/7/19 从农作物到商店货架 近红外光谱分析的应用前景一片光明 近红外（NIR）光谱仪虽然已经问世60 年之久，但它在测量不同材料的能量反射或者透射方面的重要性却鲜少被人认可。NIR 光谱仪可帮助一系列产业（包括农业、法医学、医药、石油及医疗保健等等）确定某种物质的分子“指纹”。 发表于：2016/7/19 <…242243244245246247248249250251…>
