基于边界扫描技术的数字系统测试研究AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于边界扫描技术的数字系统测试研究
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：327 K

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文档介绍：介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法，并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点，且设计的系统控制逻辑简单方便，易于实现。
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