首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷" title="惠瑞捷">惠瑞捷(NASDAQ：VRGY)今天宣布，日本冲电气" title="冲电气">冲电气工业株式会社OKI（TSE: 6703 ）已选用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案" title="测试解决方案">测试解决方案以测试其高集成度" title="高集成度">高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中，其中包括：机顶盒，手机，掌上电脑和其它无线产品等等。OKI亦利用其在封装技术方面的优势向其它制造商提供封装与测试服务， 而Port Scale射频测试方案将为OKI的测试服务业务进一步提供更多价值。惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案凭借其独到的性能、具有优势的测试成本、v93000平台的可靠性和可扩展性以及遍布全球的高质量应用测试服务支持最终获得OKI的青睐，在众多候选方案中脱颖而出。 

    OKI是第一批采用惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案的公司之一，惠瑞捷的Port Scale射频测试解决方案的推出符合市场迅速增长的需求。目前十大射频半导体供应商中有八家正以Port Scale射频方案开发并超过25种各类产品，准备在未来数月内投入量产" title="量产">量产。这些芯片包括含当今最具有挑战性的3G和4G技术，如UWB和WiMAX技术，蓝牙，GPS导航以及ZigBee等。 

    “为了继续向我们的客户提供最佳质量的芯片以帮助他们满足当今复杂高速无线通信的应用需求，我们需要一个可靠性高，测试成本更低且能有效加快量产化速度的测试解决方案。” OKI株式会社ATP制造部门总经理Katsumi Onaru先生说：“Port Scale 射频测试解决方案很好地为满足了我们对于性能，成本和支持的要求，令我们在这些领域都能够从容应付挑战。v93000平台固有的灵活性意味着它同样能满足我们的客户对于未来下一代设备的需求”。 

   “凭借Port Scale射频测试解决方案，惠瑞捷已经率先带来了业内第一套整合探头的多端口测试方案，以此为高集成度射频设备提供高性价比的测试。从而在竞争中取得领先地位”。惠瑞捷半导体科技公司业务与服务支持副总裁Pascal Ronde说： “我们很高兴OKI选用了已被许多其它公司采用并一致认可的Port Scale 射频测试解决方案，在这些公司的共同推动之下，Port Scale将能迅速成为测试包括最新的3G和4G技术在内的全范围复杂射频系统芯片和射频系统级封装的新标准。” 

关于惠瑞捷Port Scale 射频测试解决方案 

    基于v93000 soc测试平台的Port Scale射频测试解决方案提供了经济，有效且可靠的射频测量能力，这一全能型测量平台能够对于内含整合射频、混合信号、数字、电源管理、以及嵌入式或堆叠式内存的各类最新的高集成度芯片实施测量。而Port Scale射频解决方案是目前唯一能够满足3G，4G以及高集成度射频设备对于高容量、多点并行测试要求的方案，同时也是这些产品进行量产可行性测试必不可少的平台。 

解决方案包括： 

?   具有领先的高效率的多点并行测试能力的高产量射频测量仪器。  

?   业已证实的性能，可重复性和稳定性，所有这些均能改善芯片成品率和测试质量 

?   可扩展，并行测试 

关于惠瑞捷V93000 

    惠瑞捷V93000是一套可扩充的机台架构，能用以测试系统单芯片、系统级封装、以及高速内存芯片。V93000在全球安装的系统数已超过1,500套，不论是进行全速的工程特性量测或是大量的生产制造，都能解决业者在性能及成本上面临的严苛挑战。这套测试系统可提供大规模的多组件测试能力，能支持高达12.8 Gbps的数据速率，以及各种数字、混合信号及射频的应用。V93000可降低便携电话、WLAN、WiMAX及UWB等无线通讯应用的测试成本。 

关于冲电气工业株式会社 

    冲电气工业株式会社成立于1881年，是日本最早的通信产品制造商，其总部设在日本东京。冲电气通过其信息通信系统，半导体和打印机业务向客户提供高品质的产品，技术和解决方案。这三种业务整合为一体，创造了激动人心的新产品和新技术，在不同的市场上满足了一系列客户需求。如需与冲电气有关的更多信息，可以访问http://www.oki.com 

关于惠瑞捷 

    惠瑞捷面向半导体行业的闪存和系统芯片市场，设计、开发、制造、销售先进的测试系统和解决方案，并提供相关服务。惠瑞捷可扩充的平台系统已经被世界各地的领先半导体公司所采用，用来设计验证、特性分析和量产测试。惠瑞捷原属于安捷伦公司，于2006年6月1日正式以惠瑞捷的名义开展业务，于2006年6月13日完成首发股票上市。如需与惠瑞捷有关的更多信息，可以访问：www.verigy.com。