《电子技术应用》
您所在的位置:首页 > 其他 > 业界动态 > PXI TAC2009——引领自动化测试发展新趋势

PXI TAC2009——引领自动化测试发展新趋势

2009-09-02
作者:王 伟

 

  2009年5月26日, 第六届“中国PXI技术和应用论坛”(PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC)于北京成功举办。本次技术论坛吸引了近600位相关领域的工程师和技术人员到会。Aeroflex、MAC Panel、VPC、Pickering、凌华科技以及北京中科泛华、上海聚星仪器、陕西海泰等8家国内外知名的PXI供应商向观众现场展示了其基于PXI的最新产品和解决方案。
  本次活动开幕仪式由PXI系统联盟技术委员会主席暨NI研发总部首席工程师Mark Wetzel先生代表PXISA致欢迎词,并结合PXI技术诞生十余年来的发展历程介绍了PXI的技术优势以及PXI在全球的应用情况,展望了PXI技术的发展前景。此外,特邀嘉宾——清华大学汽车研究所副所长卢青春教授在主题演讲中向与会听众介绍了最近基于PXI技术的学术研究。
  NI中国技术市场工程师徐赟为观众带来题为“2009测试测量行业发展趋势”的主题演讲。报告从全球经济状况对于测量效率和测试成本提出的更为严格的要求以及测试测量工程师面临的挑战等问题入手,分析了伴随着测试需求的多样化和复杂化,软件定义的仪器系统已成为测试测量行业重要的发展趋势和主流技术,可帮助用户在提高效率的同时降低测试成本。作为测试测量行业的领导者,为顺应测试测量行业主流发展趋势,NI基于“以软件为核心的模块化系统架构”,进一步展望了2009自动化测试的应用发展趋势,包括多核技术下的并行测试、基于FPGA的自定义仪器设计、基于软件无线电的射频测试,以及协议感知(Protocol-Aware)的半导体验证与测试等,同时进一步将PXI平台的应用从测试领域延伸至控制、设计等领域。整个会议现场的技术演讲与产品展示都体现了这五大趋势的应用。
    全天的活动特辟3个分会场的专题讲座:“自动化测试平台专题”着重诠释以软件为中心的模块化测试平台,并以此构建自动化的测试应用;“行业应用专题”注重PXI平台从科研到生产线、从直流到射频等多个行业领域的应用;“PXI开发者专题”则为正在或将要设计PXI模块的工程师提供技术方面的培训和指导。各个分会场内,与会观众积极与演讲工程师进行互动,就工程应用问题展开讨论。而在现场应用展示区内,NI联手其他8家PXI供应商和集成商,不仅与与会工程师分享了PXI技术的最新行业应用及发展趋势,同时还提供了良好的与客户交流技术经验和分享成功案例的平台。
  在以软件为核心的模块化仪器架构已经成为测试测量行业的主流趋势之际,FPGA、多核等新兴的商业技术发展势必为测量与自动化行业带来进一步的创新变革。而PXI平台凭借其开放式的架构、灵活性以及基于PC技术的优势始终引领着自动化测试新趋势。
  经过为期5年的发展,PXI TAC已经逐渐发挥其品牌效应,成为业内工程师们分享最新测试技术、了解最新市场动态的交流平台。据今年会议现场的调查显示,高达99%的与会者认为此次活动对他们的实际工作有很大的帮助,近85%的用户将把PXI作为他们今后的首选测试测量平台。

本站内容除特别声明的原创文章之外,转载内容只为传递更多信息,并不代表本网站赞同其观点。转载的所有的文章、图片、音/视频文件等资料的版权归版权所有权人所有。本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如涉及作品内容、版权和其它问题,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以便迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。联系电话:010-82306118;邮箱:aet@chinaaet.com。