赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代45nm非易失性存储器设备调试和设计特性分析
2008-03-20
作者:惠瑞捷
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷" title="惠瑞捷">惠瑞捷半导体科技有限公司(NASDAQ: VRGY)日前宣布,为非易失性存储器" title="非易失性存储器">非易失性存储器(NVM)市场提供知识产权解决方案的领导厂商赛凡半导体" title="赛凡半导体">赛凡半导体有限公司(NASDAQ: SFUN)已经同意购买七套V5000e系统,对其下一代非易失性存储器(NVM)设备进行设计检测和调试,包括第一个45nm设计的产品。
赛凡是在与其它主要竞争对手进行比较基准测试之后选择V5000e的。赛凡发现,惠瑞捷的解决方案提供了使用最简便、最先进的调试工具。V5000拥有大量的安装客户群,也使得赛凡能够更好地兼容其新的母公司Spansion公司(NASDAQ: SPSN)及其客户和合作伙伴。
赛凡提供了NVM技术,无需使用电源就可以保留信息。该技术用于各种电子产品中,包括电话、静态和视频数码相机、个人数字助理(PDA)、便携式计算机、便携式数字音乐播放器、数字录像机、机顶盒和数字电视。赛凡独特的NROM技术被视为当前市场上密度最高的技术,因为它采用突破性的架构,可以将基础半导体存储器单元的存储容量翻一番或两番,同时仍然允许半导体制造商减少制造步骤,进而降低制造成本。
赛凡半导体有限公司测试部经理Shay Galanti表示:“我们选择惠瑞捷的原因有很多,V5000e简便易用的调试功能对我们尤为重要。我们将使用惠瑞捷测试设备,为尖端的45nm设计进行特性分析,高效调试可以节约大量的成本。”
惠瑞捷半导体科技有限公司销售副总裁Pascal Ronde表示:“对竞争激烈、快速发展的NVM市场中的赛凡等公司来说,每个生产力优势对其成功都至关重要。这样一个富于创新的公司在进行全面的评测后选择我们的解决方案,我们感到非常荣幸。”
惠瑞捷V5000简介
从工程开发到大批量生产,V5000系列存储器测试系统为满足所有存储器测试需求提供了完整的解决方案。通过采用可扩展的平台架构及为高效测试所有存储器类型优化测试仪资源,V5000系列解决了最广泛的存储器测试问题。通过超高针脚数(16,384针脚)、最高的可用并行度(x320 NAND、x256 NOR和MCP)和极大的测试仪利用率,可编程接口矩阵技术可以明显降低成品测试成本" title="测试成本">测试成本。由于统一的平台架构提供了完整的测试移植能力和稳定性,您可以在从设计、分类到成品测试的整个测试演进过程中实现全新的效率。
赛凡半导体有限公司简介
赛凡是为非易失性存储器(NVM)市场提供知识产权(IP)解决方案的厂商。该公司创新的赛凡NROM?技术允许半导体制造商提供高性能、高可靠性产品,其每兆位可以实现更低的成本,支持更大的存储容量,对所有NVM应用使用单一的流程。赛凡许可半导体制造商使用其知识产权,这些制造商采用这一技术,开发和制造各种独立式和嵌入式NVM产品,包括电信、消费电子、网络和汽车市场使用的闪存。目前已经获得赛凡NROM技术使用许可的公司包括:宏旺电子(Macronix International), NEC电子, 中芯国际, 索尼公司, Spansion和塔尔半导体(Tower Semiconductor)。
惠瑞捷半导体科技有限公司简介
惠瑞捷是为半导体行业提供先进测试系统和解决方案的领导厂商。我们通过对产品测试的灵活性、成本和性能不断优化,帮助设计人员和制造商降低测试成本,提升竞争力:
· V93000系列平台可用于测试系统级芯片(SOC)、系统级封装(SIP)和高速存储器件。扩充性极佳的V93000以其杰出的灵活性,最大程度满足了测试产品高性能与低成本的要求,具有更高利用率和更长的产品生命周期。
· V5000系列平台可测试的存储器件包括闪存和多芯片封装(MCPs)。V5000的可扩展架构和优化的测试系统资源,可以有效测试各种存储器类型,为晶圆测试和成品测试提供兼容的端到端解决方案。
· Inovys DfX解决方案提供了良率改善、故障分析和设计调试功能。先进的Inovys工具可以明显改善复杂SoC的合格产出周期。
从设计阶段到产品定型,再到大批量生产,惠瑞捷提供了包括改善产出周期在内的众多好处,使用惠瑞捷产品带来的这些益处可以被精确地度量。
如需与惠瑞捷有关的更多信息,请访问:www.verigy.com。