手机等电子设备的许多故障事实上是由于外太空的亚原子粒子造成的。

腾讯科学讯 据英国《每日快报》报道，美国范德堡大学的一项最新研究发现，计算机和手机的死机故障或许是由来自太阳系外的宇宙射线产生的带电粒子造成的。范德堡大学的教授Bharat Bhuva称这是一个大问题，但却不为公众了解。

研究发现，以接近光速传输的宇宙射线撞击地球大气层，产生了次级粒子瀑布。Bhuva教授称，每秒钟有数百万个这种粒子撞击人体，但是我们却无法感知它们，而且它们对于生物体的害处我们还不得而知。但是当涉及到技术领域，它们就存在一定的消极影响了。

科学家们发现，只有一部分的带电粒子能够携带足够的能量与微电子电路产生干涉。当它们与集成电路产生交互作用，它们就能够导致储存的数据信息产生单粒子翻转（SEU）现象。研究中也提出，难以了解这些粒子何时何地会到来。它们的到来缺乏任何的有形破坏，它们引发的设备失灵也难以确定，因此确定SEU的发生几率并不容易。

Bhuva教授解释道：“当你遭遇一次亚原子粒子的侵袭，它有可能成为任何故障的起因。有可能是软件故障，也有可能是硬件问题。你唯一可以确定这是一次SEU的方法就是排除其它所有可能的原因。”

虽然这些故障原因难以识别，但是SEU导致的问题通常是极其严重的。比如说，2003年的一次SEU导致比利时斯哈尔贝克镇的电子投票机将4096张投票全部投给了一位候选人。人们在后来发现这位候选人获得惊人的投票数后才发现这一故障。

据Bhuva教授称：“在航空公司已经发生了许多无法解释的小故障，其中一些被专家认定为必然由SEU造成。这些故障导致数百次航班被取消，并且造成巨大的经济损失。半导体制造商也非常担忧这一问题，因为故障对于他们来说更加严重。除此之外，微电子电路可以说无处不在，我们的社会正变得越来越依赖于它们。”（过客/编译）