惠瑞捷推出适用于V93000平台的Inovys 硅片调试解决方案 缩短系统级芯片(SoC)制造者改善成品率的时间
2008-06-23
作者:惠瑞捷
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷" title="惠瑞捷">惠瑞捷半导体科技有限公司(NASDAQ: VRGY)日前推出Inovys硅片调试解决方案,以满足更高效调试的需求,加速新的系统级芯片" title="系统级芯片">系统级芯片 (SoC)器件的批量生产。惠瑞捷全新的解决方案把革命性的Inovys FaultInsyte 软件和具有可扩充性和灵活性惠瑞捷V93000 SoC测试系统" title="测试系统">测试系统结合在一起。这是一款集成式解决方案,通过把电路故障与复杂的系统级芯片上的物理缺陷对应起来,可以大大缩短错误检测和诊断所需的时间。它明显地缩短了制造商采用90 nm(及以下)工艺调试、投产和大批量生产所需的时间。
由于复杂的系统级芯片正日益成为消费电子设备的核心,产品的生命周期也在缩短,这直接带来了一个压力,即缩短产品开发周期" title="开发周期">开发周期,把有限的时间用于调试和特性分析。与此同时,90 nm及以下工艺中的节点设计对于铸造设备变化十分敏感,容易产生新的错误机制和故障模式。此外,在这种工艺下,工艺和设计相互影响,也会产生复杂的新错误和新缺陷。
惠瑞捷半导体测试解决方案副总裁兼总经理Hans-Juergen Wagner表示:“加速检测和诊断复杂的系统级芯片由设计引起的问题,对实现其产品开发周期目标至关重要。在最新的工艺节点上,提前几个星期上市可以给设计者带来上百万美元的好处。Inovys硅片调试解决方案集成了V93000的测试性能,提供了一个与众不同的工具。今天,当复杂的系统级芯片器件还在测试之中时,制造商就能够提前发现错误,而无需使用昂贵且耗时的系统和程序。”
Inovys硅片调试解决方案无缝地结合了两种经过验证的最佳解决方案。V93000 SOC测试系统通过其大型错误捕捉存储器、测量可重复性和每引脚结构,可以快速准确采集数据。Inovys FaultInsyste技术提供了革命性的可视化和诊断工具,以独一无二的方式查看半导体器件的“构造DNA”。硅片调试解决方案可以简便地被添加到已有的V93000 Pin Scale系统中。由于V93000全球用户群体非常庞大,因此加速改善成品率的解决方案将能得到广泛的应用。
该解决方案将于2008年11月初全面发售。更多信息,敬请访问www.verigy.com/go/debug。
关于惠瑞捷半导体科技有限公司
惠瑞捷半导体科技有限公司专精于设计、开发、生产及销售半导体产业的内存和系统级芯片市场所需的先进测试系统与解决方案,以及提供相关的服务。全球许多知名的半导体公司皆采用惠瑞捷的可扩充机台系统,进行设计验证、检定、以及大批量生产测试。惠瑞捷先前为安捷伦科技旗下的产品事业部,2006年6月1日起开始以惠瑞捷科技有限公司之名独立营运,并于2006年6月13日在美国上市。有关惠瑞捷公司更详细的信息,可查询www.verigy.com网站。