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提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法

2007-08-29
作者:李超,陈培峰

摘要:一种提高TMS320LF2407A内部A/D" title="A/D">A/D采样精度" title="采样精度">采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部A/D的采样幅值为0~3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器" title="排序器">排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率" title="采样速率">采样速率的情况下提高A/D的采样精度。

关键词:数字信号处理器 TMS320LF2407A 数据采集

 

 

提高TMS320LF2407A内部AD采样精度和范围的方法.pdf

 

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