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PulseCore半导体选择泰克USB串行测试套件实现业内第一的USB 2.0芯片

2008-10-07
作者:PulseCore
  测试、测量和监测仪器提供商泰克" title="泰克">泰克公司日前宣布, PulseCore半导体已经成功地采用泰克全套测试仪器,测试和验证其最新推出的USB 2.0集成电路(IC)。新推出的PulseCore IC在业内率先采用扩频时钟(SSC)降低电磁干扰(EMI),同时满足了USB 2.0行业标准。

   为测量是否满足USB 2.0行业标准和信号完整性,PulseCore结合使用装有TDSUSB2软件选项的DPO7254示波器、TDSUSBF测试夹具和P7360A 6 GHz差分有源探头。为测量电缆上的及辐射的USB 2.0 EMI功率降低情况,PulseCore还使用了带有DPX实时RF显示技术的RSA6114A实时频谱分析仪(RTSA)。DPX波形图像处理技术可以提供频谱的实时RF信息,揭示以前看不到的RF信号和信号异常事件。

  “泰克是USB设计和一致性测试" title="一致性测试">一致性测试的领导者。”PulseCore工程设计总监Dan Hariton说,“我们面临着一个特别困难的测试挑战,需要验证USB 2.0标准满足情况及EMI降低情况,因此我们转向专家求助。泰克测试套件" title="测试套件">测试套件自动进行测量检定和报告采集工作,同时消除了耗时的手动设置工作,为我们节约了大量的时间。”

   通过使用这一测试套件,PulseCore能够验证其SSC技术的效果,该技术的平均EMI衰减为4dB,满足了USB 2.0标准。RTSA在跳变" title="跳变">跳变中和跳变后实时分析SSC,保证示波器检验、调试和测试设计时,关键SSC参数一直满足规范。

仪器和软件的速度、可重复性和灵活性提供了额外的优势,帮助PulseCore找到新型IC的极限,最终为PulseCore客户提供更多的设计选项。借助PuseCore详细测试发现的信息,使用新型IC的系统设计人员可以了解极限特点,优化设计,实现最大" title="最大">最大性能,或最大限度地降低EMI。

  “泰克设备和软件自动进行设置和一致性测试,在设计阶段和验证阶段为我们节约了大量的时间。如果没有这些设备和软件,我们不可能把我们的芯片推向极限。”Hariton接着说。

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