头条 我国首批量子测量领域国家标准发布 3 月 21 日消息,据合肥国家实验室官方消息,3 月 15 日,由全国量子计算与测量标准化技术委员会(SAC / TC 578)归口管理、中国计量科学研究院和中国科学技术大学牵头制定的 6 项国家标准 ——《量子精密测量中里德堡原子制备方法》《精密光频测量中光学频率梳性能参数测试方法》《量子测量术语》《原子重力仪性能要求和测试方法》《单光子源性能表征及测量方法》《光钟性能表征及测量方法》通过国家标准化管理委员会批准正式发布,将于 2024 年 10 月 1 日开始实施。这是我国发布的首批量子测量领域国家标准。 最新资讯 简仪科技获IDG独家A轮注资 简仪科技今日宣布完成了由IDG资本独家投资的A轮融资,助力加速模块仪器生态圈的建设。 发表于:2023/7/25 面向多维数据的异常点检测模型设计* 为了在大数据环境下快速、精准地挖掘异常点,保障网络安全,提出了一种面向多维数据的异常点检测模型设计方案。该方案利用长短期记忆网络(LSTM)存储任意时间段的多维数据,并使用图卷积网络提取完整数据结构,同时加入惩罚参数和均方误差来缩小异常点出现范围。此外,还利用编码器和解码器构建变分自编码器函数模型,使其能够解读正常数据子特征,并通过编码重建损失函数来计算数据异常度量,从而实现异常点检测。经过实验验证,该方法表现出较高的检测正确率和运行效率,具有极高的应用价值。 发表于:2023/7/24 一种可扩展的高精度可靠IO时序测试方法 针对现有IO测试方法时序测量数量少、精度和可靠性低的问题,提出了一种可扩展的高精度可靠IO时序测试方法,实现了基于层次化的混合网络架构的统一时钟的可扩展大规模分布式IO时序测试系统。试验表明该系统在有效提高了IO时序容量规模的同时,保证了每个时序的测量时间精度,同时这种测量精度不会随层级增加而积累,各层级间误差一致性较高,可在满足大规模异步IO时序测试的同时,兼顾高精度和高可靠性,具有一定的实用价值。 发表于:2023/7/24 基于元学习的多头注意力时序卷积的入侵检测 为解决现有入侵检测方法在高阶依赖关系挖掘,处理时序特征和应对新型攻击手段检测等方面性能不足的问题,提出了一种基于元学习的多头注意力时序卷积的入侵检测方法。该方法引入了多头注意力机制,使模型能在不同尺度上捕捉网络数据的时序特征和高阶依赖关系。其次,结合多任务学习改进元学习算法对网络未知攻击进行识别,提升网络未知攻击的检测性能,此外,设计了一种自适应特征提取策略,动态调整特征提取粒度,以适应不同类型的网络攻击。在公开数据集实验对比表明,本文算法与主流算法相比,具有更高的准确率和F值。 发表于:2023/7/24 是德科技推出旨在加速半导体表征的高密度源表模块 是德科技(Keysight Technologies, Inc.)推出 PZ2100 系列多通道精密型源表模块(SMU)解决方案。这款全新 SMU 解决方案在 1U 机架空间内为数字开发工程师提供 20 个精密型 SMU 通道,有助于快速表征集成电路(IC)设计。 发表于:2023/7/24 学子专区—ADALM2000实验:使用窗口比较器实施温度控制 本次实验的目标是使用两个高速电压比较器作为窗口比较器,并采用这种方法对TMP01低功耗可编程温度控制器进行编程。 发表于:2023/7/24 如何为新一代可持续应用设计电机编码器 摘要 从定速电机转向提供位置和电流反馈的变速电机,不仅可以实现工艺改进,还能节省大量能源。本文介绍了电机编码器(位置和速度)、器件类型和技术以及应用案例。此外还解答了一些关键问题,例如对特定系统最重要的编码器性能指标有哪些。本文将探讨编码器应用中电子器件的未来发展趋势,包括设备健康监测和智能型长期稳健的检测。最后,本文解释了为什么完整的信号链设计是实现新一代电机编码器设计的基础。 发表于:2023/7/24 国产自研测试测量设备,联合亮相第12届国防电子展 由中央军委装备发展部支持,中国电子科技集团有限公司、中国电子信息产业集团有限公司联合主办的第十二届中国国际国防电子展览会,在北京国家会议中心成功举办。 一直以来高端的科研仪器是我国科技创新与发展的重要设备,近些年我们自己测试测量仪器也取得了飞速的发展,借着第12届国防电子展的机会,由北京开源聚合广告有公司组织的测控技术与精密制造联合展区,集合了多家国产测试测量仪器厂商一起展示自己国产自研的测控技术产品和解决方案。参展企业包括“金品智科技、昆芯国仪、泰准测控、腾方中科、科索精密机械、联创芯源”,越来越多的中国测试测量仪器走上自主可控的发展道路。 发表于:2023/7/20 相遇2023慕尼黑电子展,泰克与您探讨半导体、智能汽车测试难题 中国北京,2023年7月12日—— 2023慕尼黑上海电子展(electronica China)正在国家会展中心(上海)举办,作为全球领先的测试测量解决方案提供商,泰克科技现场展出其领先测试解决方案,展位号国家会展中心(上海)6.2号馆A202。 发表于:2023/7/16 罗德与施瓦茨推出首个自动化解决方案—加速PCIe 5.0与6.0线缆和连接器合规性测试 罗德与施瓦茨公司(以下简称“R&S公司”)开发了全新的R&S ZNrun自动化测试。对于完全自动化验证PCIe x8线缆,软件可以控制一个由R&S ZNB矢量网络分析仪和可扩展的R&S OSP开关矩阵组成的测试配置,创建一个具有64个测试端口的多端口VNA解决方案。该解决方案将PCIe x8线缆的测试时间缩短到仅几分钟,包括所有Thru连接、所有串扰组合测试以及相应指标的计算,以进行通过/失败评估。相比之下,手动测试需要数小时,并且测试工程师可能存在连接错误的重大风险。 发表于:2023/7/16 «…10111213141516171819…»