无缝连接无处不在：非地面网络如何重塑6G

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基于飞行时间法的纳秒量级时间间隔测量系统研制

如何用电子学的方法测量出起始脉冲和停止脉冲之间的时间间隔，既粒子的飞行时间，约为纳秒量级，将是整个等离子成分探测器的关键。也是目前国内离子成分探测中所面临的难题，为了能够探索出一种测量这种纳秒量级时间间隔的方法，首先必须模拟出来这种纳秒量级的时间信号，从而找出一种测量该时间间隔的最好方法。本文将主要研究基于飞行时间法的纳秒量级时间间隔测量技术。

发表于：2010/12/8

基于“柔性测试”技术的噪声源定位分析系统

噪声源定位分析系统（Sound Source LocalizationSystem，简称SSLS）正是基于“柔性测试”技术开发的，具有灵活性、适应性、拓展性等特点的现代测试系统，其在设计伊始便将“柔性测试”技术贯穿于系统的每一个环节。

发表于：2010/12/8

基于Web和硬件可重构技术的远程抄表设计

随着计算机技术的发展，远程抄表技术逐渐得到广泛的应用。通过实行一户一表以及自动远程抄表，可以做到及时、准确地进行数据采集，并且提供了一种对欠费用户进行有效管理的手段。远程抄表系统通常主要由计量仪表、数据集中器、通信网络以及抄表程序四个部分组成。计量仪表完成信息转换、数据存储功能，并支持通过本地通信网络与数据集中器进行数据交换。数据集中器完成数据汇聚功能，并能与抄表程序进行远程数据交换。抄表程序则借助通信网络从数据集中器获取计量数据，并存入数据库中。在绝大多数远程抄表系统中，计量仪表通常没有太多差别，而对于抄表程序以及紧接其后的各种数据查询、统计等操作都是典型的数据库应用系统，差别也不大。相比之下，通信网络以及与之紧密相关的数据集中器则是不同系统之间差异较大的地方，同时也是技术上的难点。

发表于：2010/12/8

基于数字图像处理技术的集成块姿态检测

近年来，我国的半导体产业蓬勃发展，由于其起步较晚，虽然生产的很多环节实现了高速自动化，但集成块的质量检测还主要借助于人的视觉和主观判断能力，因而占用的大量的人力，且由于受到个人的视力、情绪、疲劳、光线等因素的影响，工作效率低，分选差异大。本文所研究的即是计算机工业图像检测技术在集成块管脚检测中的应用，相比较传统的人工检测，计算机图像检测技术有以下优点：1)替代人力减少成本。2)提高产品质量。3)提高生产效率。 本文主要针对在流水线上的集成块容易发生管脚丢失和姿态倾斜的问题，实现对流水线上的集成块的管脚以及对集成块姿态的自动检测。

发表于：2010/12/8

风速仪的测量技术及选型

风速仪的探头选择0至100m/s的流速测量范围可以分为三个区段：低速：0至5m/s；中速：5至40m/s；高速：40至100m/s。风速仪的热敏式探头用于0至5m/s的精确测量；风速仪的转轮式探头测量5至40m/s的流速效果最理想；而利用皮托管则可在高速范围内得到最佳结果。正确选择风速仪的流速探头的一个附加标准是温度，通常风速仪的热敏式传感器的使用温度约达+-70C。

发表于：2010/12/8

HT46R47组成的电压频率测量显示电路

本文用HT46R47单片机完成对电压、频率的测量,采用A/D转换法和测频法。

发表于：2010/12/8

CPLD 在线缆快速测试技术中的应用

本文根据国内外线缆测试技术的发展及生产企业的实际要求，设计了一种新型便携式线缆组快速测试系统。该测试系统采用两块CPLD 用于接口电路，从而实现多组线缆(内有多条导线)同时测试，检测线缆的通断、短路和错接情况，进而达到快速检测线缆连通性能的目的。

发表于：2010/12/8

基于MSP430F247和TMP275的测温仪

TI公司的MSP430单片机以独特的低功耗和模块化设计赢得了设计者的青睐。新型MSP430F247其性价比相当高，该16位单片机处理速度快，超低功耗，能节省很多资源；MSP430F247内置I2C模块，方便了程序编写，大大降低了程序的出错率。同时更多的I/O口可以级联更多的外围器件，而无需使用地址数据锁存器件，既方便了程序的编写，也简化了硬件电路的设计。

发表于：2010/12/8

LabSQL在智舌数据库设计方面的应用

一般在实际测量过程中，由于采集得到的数据量非常巨大，不可能将所有的数据存储并进行处理，除此之外，还要记录系统的各项测试参数。这就不仅要求数据冗余少，而且能够实现自动存储和管理功能。数据库恰好满足了目前的数据存储需求，而研究基于LabVIEW开发平台访问数据库技术，正是现代测试系统设计所必需的。

发表于：2010/12/8

数字化宽带测向系统中的相位差测量及误差分析

本文是系列论文的第一篇，给出了数字化宽带测向系统模型，讨论了数字化相位差测量方法，推导了数字化相位测量的数字化方法误差函数和由通道噪声引起的信号相位误差分布密度函数。相位差测量的精度直接影响系统测向的精度，还会影响解相位差模糊和天线阵列基线设置等一系列系统设计问题。

发表于：2010/12/8