| 高效测量碳化硅 (SiC)电源系统中的信号-应用指南 | |
| 所属分类：白皮书 | |
| 上传者：zhoubin333 | |
| 文档大小：4268 K | |
| 标签： 碳化硅 电源系统 | |
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| 文档介绍：● 测试设备能否准确地测量 SiC 系统的快速开关动态特性？ ● 怎样才能准确地优化门驱动性能和死区时间？ ● 共模瞬态信号是否影响测量准确度？ ● 我看到的振铃是真的吗？还是探头导致的结果？ 通过配套使用泰克 IsoVu™ 探头、4 系、5 系或 6 系MSO 示波器及仪器上提供的自动测量功能，设计人员可以解决 SiC 电路级性能验证问题。 | |
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