基于ATE的千级数量管脚FPGA多芯片同测技术
所属分类:技术论文
上传者:wwei
文档大小:3523 K
标签: 现场可编程门阵列 自动化测试系统 多芯片同测
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文档介绍:随着超大规模FPGA芯片技术发展,芯片管脚数量提升到1 000以上,如何实现超大规模多引脚FPGA芯片高效测试成为ATE在线测试难点。针对一款千级数量管脚超大规模的FPGA芯片,基于FPGA的可编程特性,采用多芯片有效pin功能并行测试和单芯片全pin电性能参数测试相结合的方法进行ATE测试,实现了千级数量管脚FPGA芯片的4芯片同测,测试效率提升3倍多。
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