测试芯片 相关文章(13篇)
-
円星科技推出完整MIPI物理层IP解决方案
发表于：9/20/2016 6:45:00 PM
-
ARM携手台积电打造多核10纳米FinFET测试芯片
发表于：5/21/2016 8:15:00 PM
-
IMEC与Cadence完成首款5纳米测试芯片的成功流片
发表于：10/15/2015 8:00:00 AM
-
IBM制成7纳米芯片 晶体管数量超200亿
发表于：7/10/2015 7:00:00 AM
-
Mentor Graphics 与 TSMC 合作
发表于：9/30/2014 3:43:45 PM
-
中芯国际与灿芯半导体40纳米低漏电工艺ARM Cortex-A9双核测试芯片成功流片
发表于：2/28/2012 1:32:58 PM
-
Open-Silicon、MIPS科技和DolphinTechnology携手实现TSMC40nm下超过2.4G CPU 性能
发表于：9/28/2010 4:16:40 PM
-
Altera展示25-Gbps收发器，树立满足业界带宽需求关键里程碑
发表于：9/21/2010 1:50:10 PM
-
Open-Silicon、MIPS科技和Virage Logic共同完成高性能ASIC处理器设计
发表于：11/6/2009 4:00:25 PM
-
SOI测试芯片结果在IEEE大会上得以详述
发表于：10/13/2009 5:42:28 PM
-
英国ARM采用32nm工艺试制出配备Cortex-A9的测试芯片
发表于：2/24/2009 2:30:30 PM
-
英国ARM采用32nm工艺试制出配备Cortex-A9的测试芯片
发表于：2/24/2009 2:30:30 PM
-
Altera:三大策略打造45nm FPGA
发表于：1/18/2008 5:03:21 PM
Copyright © 2005-2025 华北计算机系统工程研究所版权所有 京ICP备10017138号-2