基于SiP技术的某分组件及测试系统设计与实现AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于SiP技术的某分组件及测试系统设计与实现
所属分类：技术论文
上传者：aetmagazine
文档大小：843 K
标签： SiP技术自动化测试分组件
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文档介绍：系统级封装SiP已成为突破摩尔定律的主要技术路线，是未来武器装备小型化和多功能化的重要依托，在武器装备研制和应用领域具有广阔的市场和前景。针对区域信号目标识别系统轻量化、小型化、集成化、低功耗等要求，设计一种基于SiP技术的某分组件并为此开发一套自动化测试系统，通过该自动化测试系统对200多套产品进行试验，得出该产品性能稳定、可靠；轻量化、小型化、低功耗等要求也满足客户要求。
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