| eFuse失效分析与可靠性电路设计 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：aetmagazine | |
| 文档大小：3783 K | |
| 标签： eFuse 可靠性 失效模式 | |
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| 文档介绍：电编程熔丝（eFuse）基于电子迁移原理，通过熔断熔丝使其电阻特性发生不可逆改变来实现编程操作。提高可靠性是eFuse系统和电路优化设计的核心目标。从eFuse工作原理以及失效模式分析入手，重点介绍了影响其可靠性的系统原因和主要机理及过程，并在综合常规电路设计基础上，结合考虑各种工作模式下和具体模块中存在的影响可靠性的因素，最后提出了具有针对性的电路设计解决方案。 | |
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