中文引用格式: 文永森,罗曦,杜映洪,等. 基于晶圆级技术的PBGA电路设计与验证[J]. 电子技术应用,2024,50(7):55-58.
英文引用格式: Wen Yongsen,Luo Xi,Du Yinghong,et al. Design of PBGA circuit based on wafer level packaging technology[J]. Application of Electronic Technique,2024,50(7):55-58.
引言
近年来,在“超越摩尔定律”的背景下[1],以芯片与封装协同开发的先进封装技术随之诞生。其中,扇出型晶圆级封装(FOWLP)技术以将多个芯片互连且形成系统级封装为技术优势而备受关注。
国外已经有对FOWLP技术的应用,TSMC 和 Apple 公司在2016年首次在A7处理器上实现了FOWLP技术的应用,在大幅度降低制造成本的同时,解决了模拟、电源等芯片混合封装的问题[2]。Samsung公司在 2018年采用芯片后置的扇出封装技术来制作重布线层(RDL)完成芯片间的互连,使多通道、多I/O的堆叠内存芯片(HBM)突破内存芯片的宽带瓶颈[3]。
国内技术起步较晚,依靠自主工艺能力,也有相应的产品研究,李居强等人设计一款双层晶圆级扇出封装产品,在机电控制电路小型化领域中做出了一次创新[4]。王刚等人设计了一款天线-芯片一体化射频产品,利用晶圆级封装实现了天线与芯片的垂直布局与互连,为更高密度和更大规模的射频电路提供了解决思路[5]。
晶圆级封装技术在国内虽然得到广泛研究,但尚未制定统一的可靠性验证标准[6]。因此,该类产品目前没有被大规模运用。相反,随着国内基板制造水平的提升,高多层、大尺寸等高难度树脂基板已经实现了规模化量产,高可靠性和低成本的制造环境为电路小型化提供了更多解决方案[7]。本文将在已有的晶圆级封装芯片基础上,使用FOWLP和芯片倒装(FC)技术进行有机基板封装(PBGA)封装,利用国内成熟的封装技术,在满足性能指标的同时,使产品达到交付使用的标准,也可为该类型电路的小型化设计与制造提供参考。
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作者信息:
文永森,罗曦,杜映洪,刘勇,刘绍辉
(中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035)