首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷日前宣布与MicroProbe、NVIDIA、Tokyo Electron (8035 TSE) 和Rudolph Technologies合作开创使用惠瑞捷V93000 Direct-Probe解决方案生产数位、SOC 和RF 设备的统包解决方案(turnkey solution)。该合作开发项目成功支持了V93000 Direct-Probe 解决方案在全球范围内的安装基数超过200，这个数字仍在增长。

　　惠瑞捷V93000 Direct-Probe 解决方案具备了几项主要优点，包括频宽更高、高速讯号的讯号完整性更好。此外，V93000 Direct-Probe 解决方案提供更多的组件应用空间于板上本地环回接口(on-board loopback)，和一个使用兼容探针测试与成品测试的印刷电路接口板的全整合晶圆探针接口。 V93000 Direct-Probe 的客户有探针供应商、探针卡分析设备供应商和微距探针技术供应商。

　　「MicroProbe与惠瑞捷的长期合作关系让我们的开发团队决定在高探针数应用程序的Apollo和MEMS 产品系列中使用惠瑞捷Direct-Probe 解决方案，」MicroProbe总裁兼首席执行长Mike Slessor 表示。 「另外，我们在Rudolph Technologies Vx4 探针卡计量系统等基础架构方面的投资使我们能够在高效能Direct-Probe 解决方案方面为重要客户的快速生产提供支持。」

　　「NVIDIA选择惠瑞捷V93000 Direct-Probe 解决方案，因为它的测试成本较低。」NVIDIA营运执行副总裁Deb Shoquist 说。 「另外，我们对探针更高的电效能需求也影响了我们与惠瑞捷及其战略合作伙伴进行合作的决定。」

　　「所有参与Direct-Probe伙伴共同合作开发了一个挑战性的创新项目，这促使我们对PrecisionWoRx VX4 探针卡测试和分析系统的开发，」Rudolph检测业务部(Inspection Business Unit) 的执行副总裁兼总经理Nathan Little 说。 「探针卡供应商可利用我们的VX4 系统建立并修复惠瑞捷Direct-Probe 已有的高效能探针解决方案。」

　　「因为我们在V93000 Direct-Probe 解决方案设计阶段就已开始工作，所以我们可以针对惠瑞捷高效能探针的要求提供一个高级平台，」Tokyo Electron测试系统部总经理Yuichi Abe 说。 「我们的Precio 系列全自动晶圆探针的稳定性和精确性实现了在Direct-Probe 之前高引脚数生产晶圆测试无法实现的电效能。」

　　「惠瑞捷很荣幸V93000 Direct-Probe 解决方案获得领先地位，」惠瑞捷SOC 测试执行副总裁Hans-Juergen Wagner 说。 「我们针对测试CPU、图形处理器、数位基带设备和WLCSP 消费类设备的全套统包解决方案实现了具有成本效益的高效能探针能力。」