新闻发布 – 2017年6月6日 – NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻的工程挑战的供应商，今日宣布推出第二代矢量信号分析仪(VST)的基带版本。 PXIe-5820模块是业界首款具有1 GHz复杂I/Q带宽的基带VST，旨在解决最具挑战性的RF前端模块和收发器测试应用需求，如包络跟踪、数字预失真和5G测试。

NI的射频和无线技术副总裁Charles Schroeder表示：“2016年，NI推出了具有1 GHz的瞬时带宽的第二代VST射频款，引起了业界的一次巨大反响。 第二代VST的基带款将再次引起业界的反响。 工程师可以结合LabVIEW系统设计软件使用基带VST，以应对收发仪测试应用的不断变化和升级的需求。 工程师可以利用NI VST的软件设计架构来加快设计步伐，降低测试成本以及解决以前传统测试方法无法解决的测量问题。”

PXIe-5820将宽带I/Q数字化仪、宽带I/Q任意波形发生器和高性能用户可编程FPGA组合到一个2插槽PXI Express模块中。 基带VST具有1 GHz的复杂I/Q带宽，适用于无线和蜂窝芯片组的基带I/Q测试以及功率放大器数字预失真波形的包络跟踪，以及新无线标准（如5G、802.11ax和LTE-Advanced Pro）的生成和分析等各种应用。
产品特性：

1 GHz的复杂I/Q瞬时带宽，用于生成和分析信号

高测量精度，可测量-54 dB的802.11ax误差矢量幅度(EVM)性能

基带2通道差分I/Q，具有4 Vpp差分输入和2 Vpp差分输出摆幅

基于FPGA的快速测量，能够以10倍的速度进行测量，具有高度优化的测量软件

紧凑的尺寸，基带VST和RF VST紧密同步，在PXI组成结构中可允许2x2、4x4、8x8或更大型的多输入多输出(MIMO)配置

出色的本底噪声，无杂散动态范围

用户可编程的FPGA，工程师可以进行自定义来添加针对特定应用的功能

易于编程，RF和基带VST之间具有一致的软件体验

NI RF研发首席架构师Ruan Lourens表示：“我们特意对原有软件设计架构进行升级，开发了基带VST。 我们已经设法优化每一个可能的领域，从热和电气领域到数字信号处理，成功地在小巧的封装中提供了1 GHz的复杂I/Q带宽。 基带VST可以与PXIe-5840 RF VST紧密同步至亚纳秒精度，为无线芯片组的RF和基带差分I/Q测试提供完整的解决方案。

基带VST是NI平台和生态系统的重要组成部分，可帮助工程师构建更智能的测试系统。 这些测试系统将受益于从直流到毫米波等600多个PXI产品 。 它们采用PCI Express第三代总线接口，具有高吞吐量数据移动，同时具有子纳秒级同步以及集成的定时和触发。 LabVIEW和TestStand软件环境的高效生产力，以及一个由合作伙伴、附加IP和应用工程师组成的充满活力的生态系统，可帮助用户大幅降低测试成本，缩短上市时间，开发面向未来的测试设备来应对未来的种种挑战。
如需了解更多关于VST的信息，请访问www.ni.com/vst/。