基于形态学和梯度特征的二维条码检测定位AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于形态学和梯度特征的二维条码检测定位
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：282 K

所需积分：0分积分不够怎么办？
文档介绍：针对复杂背景下的二维条码定位问题，单一特征提取已很难满足其需要。为此提出一种将图像二值化，然后采用基于数学形态学和kirsch边缘检测的算法滤去图像背景，最后利用投影算法定位条码区域。实验结果表明，该方法简单、快速、准确，很好地满足了实际使用的需要。
现在下载
VIP会员，AET专家下载不扣分；重复下载不扣分，本人上传资源不扣分。

相关文章