iCoupler®隔离产品的ESD/闩锁考虑因素AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

iCoupler®隔离产品的ESD/闩锁考虑因素
所属分类：技术论文
上传者：ADI
文档大小：500 K
标签：信号调理
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文档介绍：由于iCoupler采用CMOS技术，因此在系统级ESD(静电放电)、电涌电压、快速瞬变或其它过压条件下，它比光耦更容易受到闩锁或ESD的破坏。本应用笔记提供关于避免这些问题的指南。针对各种系统级测试配置，本文举例说明了其可能影响性能的机制。针对每个示例，本文都给出了推荐解决方案。
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