设计具备单粒子翻转(SEU) 免疫能力的医疗解决方案AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

设计具备单粒子翻转(SEU) 免疫能力的医疗解决方案
所属分类：解决方案
上传者：chenyy
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文档介绍：FPGA 器件中的辐射影响分为两类 ?数据影响(―软错误”) –触发器、存储器单元、组合逻辑单元中的单比特位翻转 –如果能够校正错误，不是严重的问题 –如果是非关键性数据：请求重新发送 –对于关键性数据：使用EDAC/FEC、奇偶校验冗余来保护 ?配置影响(―固件错误”) –FPGA 配置元件中的单比特位翻转 –非常严重的问题 –引起FPGA 故障 –影响数百万比特位的数据 –可以引发整个系统的故障 ?医疗等地面应用中的两个重要辐射源 –中子 –阿尔法粒子概述
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