基于自相关副峰消除的多径抑制技术改进AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于自相关副峰消除的多径抑制技术改进
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：512 K

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文档介绍：为消除Sine-BOC(1,1)信号自相关函数的旁瓣所引起的跟踪模糊问题，Oliver Julien提出了自相关副峰消除技术。在此研究的基础上，将其与传统的窄相关和Strobe多径抑制技术相结合，并针对Sine-BOC(1,1)和CBOC(6,1,1/11)信号进行多径抑制性能分析。通过分析EML鉴别曲线过零点偏移情况和多径抑制能力可知，ASPeCT技术不仅消除跟踪模糊，而且能够有效地提升窄相关和Strobe技术的多径抑制能力。
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