设计应用 基于LabVIEW和PCI-5124的数据采集系统设计[测试测量][其他] 传统数据采集系统一般由单片机与硬件采集电路或数据采集卡配置计算机组成。这种数据采集系统存在开发难度大、可移植性差、数据采集效率低、实时存储容量小等缺点。 发表于：2011/8/2 下午4:49:51 基于MSP430和CC2500的USB无线数据采集系统[测试测量][其他] 基于MSP430单片机和CC2500的无线数据采集系统是一个功能齐全的无线开发工具，该系统主要由MSP430F系列微控制器和CC2500(2．4 GHz)无线收发器组成。系统可在PC机上利用IAR嵌入式工作平台集成开发环境(IDE)或CCE开发环境编写、下载和调试应用程序。 发表于：2011/8/2 下午4:48:21 大容量串行e-Flash的FPGA配置方案[可编程逻辑][其他] 本方案提出了一种基于大容量串行e-Flash的XilinxSpartanlI系列FPGA在线配置的方法。该方案适用于采用MCU的嵌入式系统中，占用MCU的I/O口资源少，且可以实现ROM的共享。MCU程序采用C语言编写，便于在单片机、ARM等MCU间的移植。经过实际测试，配置XC2S30仅需数秒，可以应用在对设备开机时间要求不高的场合。本方案已经应用在某电力测量设备中，效果理想，运行可靠。 发表于：2011/8/2 下午4:25:00 用FPGA实现数字电视条件接收系统[可编程逻辑][其他] 在采用MPEG-2的数字电视中，加扰过程就是用一个由控制字CW控制的伪随机序列对PES流或TS流进行扰动，使没有被授权的用户不能观看节目。对于授权用户，他们的接收机也有一个同样的伪随机序列产生器，如果接收到正确的CW，就可以生成解扰序列，解除信号的扰动，恢复出接收机可以播放的信号。 发表于：2011/8/2 下午4:25:00 OLED光电性能综合测试系统的方案[测试测量][其他] 有机发光二极管（organic light emitting diode，OLED）是一种新型的平板显示器件和二维光源。通过测试OLED器件的电流－电压特性、发光亮度－电压特性、温度－电流特性、发光效率－电压特性、色坐标以及电致发光光谱等，可判断器件发光性能和电学性能的好坏，并计算出其外部量子效率和能量转换效率。目前较普遍的是采用直流电压表、电流表来测定OLED器件的电流、电压特性。利用微弱光光度计测定样品的发光亮度，利用温度采集仪测量样品的温度。 发表于：2011/8/2 下午4:13:53 自动检测系统原理应用和发展状况的研究[测试测量][其他] 介绍了自动检测技术的发展现状及其在性能检测和故障诊断方面应用的必要性和良好前景；讨论了现代自动检测系统组建时，用到的关键技术；详细论述了基于PC的虚拟仪器技术的特点，软、硬件的构成和设计时关键技术分析。提出了目前在虚拟仪器系统中较为常用的几种总线方式和应用特点。 发表于：2011/8/2 下午4:12:42 基于CPLD／FPGA的多串口设计与实现[可编程逻辑][其他] 本文详细介绍了CPLD／FPGA多串口设计的内部构成，对各个模块的工作原理和关键信号进行了分析，给出了EDA软件仿真形波和测试结果。通过对FPGA／CPLD多串口的设计与实现，为嵌入式系统中串口的扩展提供了一定的帮助。 发表于：2011/8/2 下午4:00:00 基于TPS54310的SOC电源电路设计[嵌入式技术][其他] 目前，片上系统(SOC)芯片已经在无线通信、工业控制、视频监控等领域得到了越来越广泛的应用，SOC系统需要考虑接口驱动电路、动态电源管理和电源电路等问题，其中，良好的电源电路是成功实现系统功能的重要保障。本文就应用于视频监控的TMS320DM64xx系列SOC外部电源电路的设计进行了讨论。 发表于：2011/8/2 下午4:00:00 基于ADS8482与TMS320F28335的信号采集系统[嵌入式技术][其他] 本文以ADS8482型A／D转换器与TMS320F28335在加速度信号采集中应用为基础，详细讨论ADS8482与TMS320F28335的接口设计和工作原理，并提供该系统设计的部分硬件设计和软件代码。该设计方案也可用于其他高速数据采集，以及微弱信号检测信号等场合。 发表于：2011/8/2 下午4:00:00 移频键控信号测量系统设计[可编程逻辑][其他] 为了提高铁路机车中移频键控信号的测量精度，给出了一种利用FPGA和ARM处理器测量频率的方法。该方法在FPGA中利用量化时钟实时测量一组FSK信号周期长度，并将测量数据存储在FPGA内部设计的双口RAM中。FPGA通过设计的串口模块将测量数据送给ARM处理器，ARM处理器对产生测量误差的主要原因进行分析，并对上、下边频切换时产生的畸变数据进行处理，给出了时间间隔测量误差的分析和补偿方法。实验表明，该系统具有较好的抗扰动能力，能够满足一般工业现场测试速率和精度的要求。 发表于：2011/8/2 下午2:38:52 <…2584258525862587258825892590259125922593…>
