芯片开发和生产中的IC测试原理[测试测量][其他]
本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。
发表于:2010/10/10 下午4:06:42
可编程系统芯片 (PSC) 在智能电池管理中的应用[EDA与制造][其他]
智能电池管理系统的最大优点之一,是为系统设计人员提供管理功率的可能性。使用从智能电池管理系统获得...
发表于:2010/10/10 下午3:45:55
本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。
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