头条 高安全性测试数据分层的芯片测试方案设计 随着嵌入式芯片集成度与复杂度的持续提升，传统测试方法在安全性、灵活性及测试效率方面的瓶颈日益凸显。因此以通用微控制器（MCU）为研究对象，深入剖析芯片测试模式的核心技术，提出一套集高安全性测试模式准入、测试数据分层分配于一体的芯片测试方案。该方案通过63位密钥认证机制实现测试模式安全接入，同时构建IO直接控制、寄存器控制与Flash系统配置值控制的分层架构，保障测试数据的灵活分配，可全面覆盖芯片多模块的测试需求，为高安全场景下的芯片测试提供可靠支撑。 最新资讯 [有奖活动] ARM来袭，如何助你成为创业家 [有奖活动] ARM来袭，如何助你成为创业家 发表于：2015/11/16 AN179 — Cortex™-M3 嵌入式软件开发 ARM 应用程序说明 发表于：2015/11/16 AN234 — 从 PIC 微控制器迁移到 Cortex-M3 ARM 应用程序说明 发表于：2015/11/16 AN237 — 从 8051 迁移到 Cortex 微控制器 ARM 应用程序说明 发表于：2015/11/16 Cortex-M4 技术参考手册 (TRM) 指令计时信息 发表于：2015/11/16 Cortex-M3 技术参考手册 (TRM) 指令计时信息 发表于：2015/11/16 将 CMSIS-DSP 算法与 RTX 结合使用 Keil 应用程序说明 发表于：2015/11/16 Freescale Kinetis 设备上的内存配置 Keil 应用程序说明 发表于：2015/11/16 使用 Cortex-M3 和 Cortex-M4 时的故障异常 Keil 应用程序说明 发表于：2015/11/16 Keil uVision 和 Actel SmartFusion Keil 应用程序说明 发表于：2015/11/16 <…1675167616771678167916801681168216831684…>
