头条 平头哥真武M890芯片商业化提速 650家外部客户已上车 平头哥真武M890芯片商业化提速！650家外部客户已上车 最新资讯 致茂电子最新半导体测试解决方案 3月SEMICON China盛大展出 上海2017年3月13日电 /美通社/ -- 致茂电子为精密电子量测仪器、自动化测试系统、智慧制造系统与全方位 Turnkey 测试及自动化解决方案领导厂商，将于3月 SEMICON China 推出最新半导体测试解决方案，以因应 IoT 晶片市场的蓬勃发展。 发表于：2017/3/13 优傲机器人：人机协作机器人助推电子制造业智慧升级 中国上海，2017年3月13日 ——丹麦优傲机器人公司（Universal Robots）作为人机协作机器人全球领导企业，始终致力于推动电子制造业的智能转型和升级。近年来，电子制造业已逐渐成为汽车及零部件之后机器人的第二大应用行业，从而促使其加速向敏捷、柔性、精益等方向发展。优傲人机协作机器人快速、灵活、精细等特点不仅迎合了这一制造趋势，创新的解决方案更助力电子制造业的智慧升级。 发表于：2017/3/13 是德科技第二届示波器感恩月正式开幕 2017 年 3 月13 日，北京－－是德科技公司（NYSE：KEYS）近日宣布第二届示波器感恩月正式开始。示波器感恩月在每年的3月份举行，是一个针对示波器用户的大型活动。活动内容包括创新的竞赛、前所未有的示波器技术分享，以及每天一次的抽奖活动。 发表于：2017/3/13 阿里巴巴携手英特尔开发一款基于 FPGA 的解决方案 Alibaba Cloud（阿里云）已宣布与英特尔合作开展基于云的现场可编程门阵列 (FPGA) 加速服务试点计划，该计划旨在帮助客户虚拟访问云中的丰富计算资源，更高效地管理业务、科学和企业数据应用工作负载。 发表于：2017/3/13 Microchip推出支持硬件加密的新型单片机 全球领先的整合单片机、混合信号、模拟器件和闪存专利解决方案的供应商——Microchip Technology Inc.（美国微芯科技公司）近日宣布推出支持硬件加密的CEC1702单片机。由于物联网（IoT）应用持续蓬勃发展，市场对包括安全启动在内的各种安全措施的需求日益增长，CEC1702的推出适时迎合了这一趋势。更多有关CEC1702的信息，请访问：http://www.microchip.com/promo/CEC1702。 发表于：2017/3/13 安森美半导体将在Embedded World展出于 Embedded World 2017 – 4A展馆110号展台- 德国纽伦堡 - 2017年3月13日 — 推动高能效创新的安森美半导体(ON Semiconductor，美国纳斯达克上市代号：ON)，在今年的Embedded World展将重点专注于电子行业最受瞩目和发展最快的三大领域，演示于物联网（IoT）、无线和USB Type-C供电/充电,以及汽车图像感测的方案和工具。 发表于：2017/3/13 基于Leap Motion指尖位置的手势提取和识别技术研究 Leap Motion是最近推出的一款比较新颖的手部信息采集设备，它能够高精度、高帧率地跟踪捕获手部信息，基于此特性，本文阐述了一种基于指尖位置和方向信息进行手势提取和识别的研究方案。采用Leap Motion传感器进行手势的三维空间坐标信息采集，从中提取指尖坐标及方向向量信息，建立手势识别模型，构建手势特征数据。对特征数据进行归一化处理后输入到支持向量机进行训练，实现对特定手势的识别。实验结果表明，提出的手势识别方案平均识别精度达到97.33%，具有较高的准确性和鲁棒性。 发表于：2017/3/13 基于相位一致的周边抑制目标轮廓检测算法 针对复杂背景下的传统目标轮廓检测算法受图像对比度及亮度变化影响，且存在过多噪声与轮廓弱化等问题，提出一种新的相位一致性周边抑制轮廓检测算法。算法首先根据相位一致性(PC)原理，应用Log_Gabor 构造相位一致性模型，克服了对比度与亮度改变的影响；其次，引入全变差去噪模型，基于相位一致性进行了改进，去除了大量的噪声；最后，提出各向同性周边抑制模型对上述模型进行优化，抑制纹理边缘，使真实轮廓更突出。仿真结果显示，与PC模型和周边抑制算法相比，新算法的精度更高, 明显优于传统方法, 并具有较高的稳定性。 发表于：2017/3/13 防止无人机起落架影响视场的可翻转支架研究 针对折反射式全景相机获取全方位图像时，由于无人机起落架的遮挡，造成图像获取要素不完整的问题，设计了一种防止无人机起落架影响全景相机视场的可翻转支架系统。通过采集无人机离地距离和飞行状态调节全景相机镜头的位置，可以防止无人机起落架落入图像内，使得采集要素的完整性达到了100%，提高了采集的图像质量；同时可以根据无人机的起落距离，对全景相机进行翻转收放，避免镜头与地面相接触，有效保护了镜头。 发表于：2017/3/13 大规模数字电路系统可测性设计技术研究 为满足大规模数字电路系统测试、故障诊断的需要，可测性(DFT)设计已成为大规模数字电路系统设计中不可或缺的重要组成部分。结合边界扫描测试原理和大规模数字电路系统的主要特点，研究DFT实现的技术途径，并将其用于某大规模数字电路系统的设计中。实现了该大规模数字电路系统的一键式互连故障诊断及可扫描网络准确定位，有效简化了测试复杂度。 发表于：2017/3/13 <…756757758759760761762763764765…>
