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一种带有斜率补偿的片上温度检测电路
所属分类：技术论文
上传者：aetmagazine
文档大小：436 K
标签：温度检测斜率补偿模拟集成电路
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文档介绍：介绍了一种采用0.13 μm CMOS工艺制作的适用于片上集成电路的温度传感器。分析了核心模拟电路和温度检测原理，对参考电压进行了斜率补偿，以取得更准确的温度检测性能。样品电路测试表明，在-55 ℃～125 ℃范围内，温度检测结果与实际温度基本吻合。
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