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BIT设计与发展综述
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：352 K

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文档介绍：机内测试BIT（Built-In Test）是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术，是实现可测试性设计的重要技术手段之一。介绍了机内测试技术的定义、特点、分类、设计内容以及设计流程等，详细阐述了机内测试技术的发展历程，并对测试性技术的新趋势进行了探讨和展望。
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