高速高分辨率ADC有效位测试方法研究AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

高速高分辨率ADC有效位测试方法研究
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：368 K

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文档介绍：介绍了ADC的有效位计算公式，分析了ADC的性能参数测试方法，给出了ADC的有效位测试解决方案。对FFT方法在ADC性能测试中的应用做了深入探讨，包括频谱泄露、相干采样和加窗函数等。采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行有效位测试，得到其在400 MS/s采样率的有效位ENOB=9.12 bit(fin=1.123 MHz)。
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