| 基于动态自刷新和扩展汉明的纠错机制 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：wwei | |
| 文档大小：2326 K | |
| 标签： 动态自刷新 扩展汉明码 高可靠性 | |
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| 文档介绍：辐照场景下存储单元可能发生数据翻转，为了提高数据的可靠性，设计了一种基于动态自刷新和扩展汉明码的纠错机制。该电路包括编码模块、解码纠错模块、数据存储模块、动态自刷新管理模块，具有纠一检二的功能以及较低的动态功耗。采用Verilog硬件描述语言实现并搭建了仿真验证系统，仿真结果表明，该纠错机制能够有效纠正单比特错误、检测上报双比特错误，提高了存储单元的可靠性。该机制在本公司研发的交换芯片中大量应用，通过了辐照翻转实验，验证了该机制的有效性。 | |
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